コマツ サトシ   KOMATSU Satoshi
  小松 聡
   所属   東京電機大学  工学部 電子システム工学科
   東京電機大学大学院  先端科学技術研究科 電気電子システム工学専攻
   東京電機大学  工学部 電気電子工学科
   東京電機大学大学院  工学研究科 電気電子工学専攻
   職種   教授
言語種別 英語
発行・発表の年月 2016/04
形態種別 学術研究論文
査読 査読有り
標題 Dynamic Power Integrity Control of ATE for Eliminating Overkills and Underkills in Device Testing
執筆形態 共著
掲載誌名 Journal of Electronic Testing
掲載区分国外
出版社・発行元 Springer
巻・号・頁 32(3),pp.257-271
著者・共著者 Masahiro Ishida, Toru Nakura, Takashi Kusaka, Satoshi Komatsu, Kunihiro Asada