モリヤマ サトシ   MORIYAMA Satoshi
  森山 悟士
   所属   東京電機大学  工学部 電気電子工学科
   職種   准教授
言語種別 英語
発行・発表の年月 2016
形態種別 学術研究論文
査読 査読有り
標題 Characterization of Effective Mobility and Its Degradation Mechanism in MoS2 MOSFETs
執筆形態 共著
掲載誌名 IEEE Transactions on Nanotechnology
掲載区分国外
巻・号・頁 15(4),pp.651-656
著者・共著者 Takahiro Mori,Naruki Ninomiya,Toshitaka Kubo,Noriyuki Uchida,Eiichiro Watanabe,Daiju Tsuya,Satoshi Moriyama,Masatoshi Tanaka,Atsushi Ando
DOI 10.1109/TNANO.2016.2570280
Put Code(ORCID) 33374171
PermalinkURL http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=WOS:000380026400011&KeyUID=WOS:000380026400011
researchmap用URL http://orcid.org/0000-0001-6599-6433