ニシカワ タダシ   NISHIKAWA Tadashi
  西川 正
   所属   東京電機大学  工学部 電子システム工学科
   東京電機大学  工学部 電気電子工学科
   東京電機大学大学院  先端科学技術研究科 電気電子システム工学専攻
   東京電機大学大学院  工学研究科 電気電子工学専攻
   職種   教授
発表年月日 2003/06
発表テーマ Soft x-ray pulse duration measurement with sub-100-fs resolution using ultrafast resonance absorption change caused by optical-field-induced ionization
会議名 23rn annual Conference on Lasers and Electro-optics (CLEO2003)
学会区分 国際学会
発表形式 口頭(一般)
単独共同区分 共同
開催地名 Baltimore (USA)
発表者・共同発表者 Katsuya Oguri, Hidetoshi Nakano, Tadashi Nishikawa, and Tsuneyuki Ozaki
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