ニシカワ　タダシ   NISHIKAWA Tadashi   西川　正    所属   東京電機大学  工学部 電子システム工学科    東京電機大学  工学部 電気電子工学科    東京電機大学大学院  先端科学技術研究科 電気電子システム工学専攻    東京電機大学大学院  工学研究科 電気電子工学専攻    職種   教授
発表年月日	2003/06
発表テーマ	Soft x-ray pulse duration measurement with sub-100-fs resolution using ultrafast resonance absorption change caused by optical-field-induced ionization
会議名	23rn annual Conference on Lasers and Electro-optics (CLEO2003)
学会区分	国際学会
発表形式	口頭（一般）
単独共同区分	共同
開催地名	Baltimore (USA)
発表者・共同発表者	Katsuya Oguri, Hidetoshi Nakano, Tadashi Nishikawa, and Tsuneyuki Ozaki
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