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ゴミ ケンジ
GOMI Kenji
五味 健二 所属 東京電機大学 工学部 機械工学科 東京電機大学大学院 先端科学技術研究科 機械システム工学専攻 東京電機大学大学院 工学研究科 機械工学専攻 職種 教授 |
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| 発表年月日 | 1998/03 |
| 発表テーマ | Detection of Failure Place Caused by Fatigue Loading |
| 会議名 | SPIE Nondestructive Evaluation Techniques for Aging Infrastructure & Manufacturing |
| 学会区分 | 国際学会 |
| 発表形式 | 口頭（一般） |
| 開催地名 | San Antonio |
| 発表者・共同発表者 | K. Ichinose, K. Tniuchi, Y. Kosaka and K. Gomi |
| 巻 | 3396 |
| 頁 | 282-292 |