ゴミ ケンジ   GOMI Kenji
  五味 健二
   所属   東京電機大学  工学部 機械工学科
   東京電機大学大学院  先端科学技術研究科 機械システム工学専攻
   東京電機大学大学院  工学研究科 機械工学専攻
   職種   教授
発表年月日 1998/03
発表テーマ Detection of Failure Place Caused by Fatigue Loading
会議名 SPIE Nondestructive Evaluation Techniques for Aging Infrastructure & Manufacturing
学会区分 国際学会
発表形式 口頭(一般)
開催地名 San Antonio
発表者・共同発表者 K. Ichinose, K. Tniuchi, Y. Kosaka and K. Gomi
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