ヤマウチ ヒロシ   YAMAUCHI Hiroshi
  山内 博
   所属   東京電機大学  工学部 電子システム工学科
   東京電機大学大学院  工学研究科 電気電子工学専攻
   職種   助教(A)
言語種別 英語
発行・発表の年月 2011/04
形態種別 学術研究論文
査読 査読有り
標題 Observation of disorder-driven carrier localization by Auger resonant Raman scattering
in n-type doped ZnO
執筆形態 共著
掲載誌名 Physical Review
掲載区分国外
巻・号・頁 B83,pp.155210
著者・共著者 M. Sakamaki, N. Kawai, T. Miki, T. Kaneko, T. Konishi, T. Fujikawa, K. Amemiya and Y. Kitajima, Y. Kato and T. Muro, H. Yamauchi and M. Sakai