サトウ シュウイチ
SATO Shuichi
佐藤 修一 所属 東京電機大学 工学部 電子システム工学科 東京電機大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻 東京電機大学 工学部 電気電子工学科 東京電機大学大学院 先端科学技術研究科 電気電子システム工学専攻 職種 准教授 |
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言語種別 | 英語 |
発行・発表の年月 | 2018/07 |
形態種別 | 学術研究論文 |
査読 | 査読有り |
標題 | Frequency dependence of electron temperature in hollow cathode-type discharge as measured by several different floating probe methods |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | Plasma Sci. Technol. |
掲載区分 | 国外 |
巻・号・頁 | 20,pp.085405 |
総ページ数 | 8 |
著者・共著者 | S. Sato, H. Kawana, T. Fujimine, M. Ohuchi |