オグラ ショウヘイ
OGURA Shohei
小倉 正平 所属 東京電機大学 工学部 自然科学系列(工学部) 職種 准教授 |
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研究期間 | 2010/10~2012/03 |
研究課題 | 表面拡散における吸着子間相互作用の解明 |
実施形態 | 科学研究費補助金 |
研究委託元等の名称 | 日本学術振興会 |
研究種目名 | 科学研究費助成事業 若手研究(B) |
科研費研究課題番号 | 22760024 |
代表分担区分 | 研究代表者 |
連携研究者 | 小倉 正平 |
概要 | 本研究では原子追跡走査トンネル顕微鏡により金属表面におけるAu単原子の拡散頻度を直接測定し,拡散における吸着子間相互作用を明らかにすることを目的とした.さらに吸着子間相互作用を取り入れたモンテカルロシミュレーションにより従来得られている異常に低い頻度因子の起源を明らかにすることを試みた.ソフトウェアの再開発を行い必要な速度で動作させることに成功し,シミュレーションによりAu原子が他のAu原子に近づく際に付加的な拡散障壁を感じると島の密度が上昇することを明らかにした. |