| 言語種別 | 英語 |
|---|---|
| 発行・発表の年月 | 2018/09 |
| 形態種別 | 国際会議論文 |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | Time Domain Reflectometry of Organic Thin Film Transistor |
| 執筆形態 | 共著 |
| 掲載誌名 | 2018 Solid State Devices and Materials Proceeding |
| 掲載区分 | 国外 |
| 巻・号・頁 | 651-652 |
| 総ページ数 | 2 |
| 著者・共著者 | M. Sakai, T. Honda, Y. Okada, H. Yamauchi, Y. Sadamitsu, Y.Hashimoto, N. Onodera, K. Kudo |