| 発表年月日 | 2018/10/19 |
|---|---|
| 発表テーマ | Efficient Test Generation Framework for Analog LSI with Behavior Model |
| 会議名 | International Conference on Advanced Technologies for Communications (ATC'18) |
| 会議区分 | 国際会議 |
| 講演区分 | 特別講演・記念講演 |
| 単独共同区分 | 共同 |
| 招待講演フラグ | 招待講演 |
| 発表者・共同発表者 | Y. Miyazawa, S. Komatsu |