言語種別 | 英語 |
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発行・発表の年月 | 1998/12 |
形態種別 | 国際会議論文 |
査読 | 査読あり |
標題 | Correlation between defect structure and light emission in Si-nanocrystal doped SiO2 films |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | Materials Research Society Symposium Proceedings |
掲載区分 | 国外 |
巻・号・頁 | 536,57-62 |
著者・共著者 | K. Sato, Y. Sugiyama, T. Izumi, M. Iwase, Y. Show, S. Nozaki and H. Morisaki |