発表年月日 | 2003/07 |
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発表テーマ | Demonstration of method for measuring soft x-ray-pulse shape using transient state of singly charged ion during sequential ionization |
会議名 | The 10th International Workshop on Femtosecond Technology (FST2003) |
開催地名 | Makuhari (Japan) |
学会区分 | 国際学会 |
発表形式 | 口頭(一般) |
単独共同区分 | 共同 |
発表者・共同発表者 | K. Oguri, T. Nishikawa, and H. Nakano |