| 言語種別 | 英語 |
|---|---|
| 発行・発表の年月 | 2019/10 |
| 形態種別 | 国際会議論文 |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | Surface Contamination with Si and O Impurities for GaN Single-Crystalline Layers Grown by Ultra-High-Vacuum Sputter Epitaxy |
| 執筆形態 | 共著 |
| 掲載誌名 | ECS Transactions |
| 掲載区分 | 国外 |
| 出版社・発行元 | IOP Publishing |
| 巻・号・頁 | 92(2),245-251 |
| 著者・共著者 | Ai Mizuno, Hiroyuki Shinoda, and Nobuki Mutsukura |