| 発表年月日 | 2007/07 |
|---|---|
| 発表テーマ | Application of Electronic Speckle Pattern Interferometry to High-speed Phenomena |
| 会議名 | 材料試験技術 |
| 開催地名 | 工学院大学 |
| 学会区分 | 研究会・シンポジウム等 |
| 発表形式 | 口頭（一般） |
| 発表者・共同発表者 | Syuichi arikawa, John A. Gaffney, Kensuke Ichinose, Tetsuya Ikeda, Takeshi Mita, Robert L. Rourks, Christopher Schneider and Sanichiro Yoshida |