ゴミ ケンジ
GOMI Kenji
五味 健二
所属
東京電機大学 工学部 機械工学科
東京電機大学大学院 工学研究科 機械工学専攻
職種
教授
発表年月日
1994/11
発表テーマ
Stress Measurement in Si-Wafer using Polarized Infrared Laser Photoelasticity
会議名
Mech. and Materials for Electronic Packaging
開催地名
Chicago
学会区分
国際学会
発表形式
口頭（一般）
発表者・共同発表者
Y. Niitsu and K. Gomi