言語種別 | 英語 |
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発行・発表の年月 | 2006/09 |
形態種別 | 国際会議論文 |
標題 | A New Measurement Technique of Low-Level Strain Retardation in Optoelectronic Materials |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | Proc. of international conference on electronic systemintegration technology |
巻・号・頁 | 257-262 |
著者・共著者 | Yasushi Niitsu, Kensuke Ichinose |