| 言語種別 | 英語 |
|---|---|
| 発行・発表の年月 | 2006/12 |
| 形態種別 | 国際会議論文 |
| 標題 | A New Measurement Technique of Low-Level Strain Retardation in Optoelectronic Materials |
| 執筆形態 | 共著 |
| 掲載誌名 | Proc. of international conference on electronic systemintegration technology |
| 出版社・発行元 | IEEE |
| 巻・号・頁 | 257-262 |
| 著者・共著者 | Kenji Gomi and Kensuke Ichinose |