| 発表年月日 | 2023/05/09 |
|---|---|
| 発表テーマ | Introduction of a new silicon drift detector equipped with graphene window to a portable X-ray fluorescence spectrometer and application on nondestructive and onsite analysis of historical glass artifacts |
| 会議名 | Technart 2023 - International conference on analytical techniques in art and cultural heritage |
| 開催地名 | University of Lisbon |
| 学会区分 | 国際学会 |
| 発表形式 | ポスター |
| 単独共同区分 | 共同 |
| 国名 | ポルトガル |
| 開催期間 | 2023/05/08 ～ 2023/05/11 |
| 発表者・共同発表者 | Yoshinari Abe, Madoka Murakushi, Hiroshi Shiino, Hiroki Nagai, Yoshihide Nakajima |